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單層芯片電(diàn)容/SLC在電(diàn)路中(zhōng)的故障
發布者 : admin 發布時間 : 2020/01/13 09:01:19


廣東愛晟電(diàn)子科(kē)技(jì )有(yǒu)限公(gōng)司是專業從事單層芯片電(diàn)容Single Layer Capacitor,SLC)的研究、生産(chǎn)、開發及銷售的民(mín)營高科(kē)技(jì )企業。我司的芯片電(diàn)容具(jù)有(yǒu)尺寸小(xiǎo)、厚度薄、等效串聯電(diàn)阻低的特點,在電(diàn)路中(zhōng)起到隔直RF旁路、濾波、調諧等作(zuò)用(yòng)。


集成電(diàn)路,是有(yǒu)不勝其數的微小(xiǎo)電(diàn)子元器件組成。因此,當電(diàn)路設計不當或者電(diàn)壓不穩時,容易導緻電(diàn)路故障,而由于電(diàn)子元器件的體(tǐ)積小(xiǎo),就難以排查故障位置。以芯片電(diàn)容為(wèi)例,在電(diàn)路故障中(zhōng),芯片電(diàn)容因其體(tǐ)積小(xiǎo)、厚度薄的特點,一旦發生故障,通過肉眼是難以判斷是否因其發生故障的。


那麽,芯片電(diàn)容在集成電(diàn)路中(zhōng)發生的故障,通常是由什麽情況引起的呢(ne)?一般芯片電(diàn)容故障現象包括:開路、擊穿、漏電(diàn)以及通電(diàn)後擊穿等。


1、開路

芯片電(diàn)容開路後,就失去了電(diàn)容的作(zuò)用(yòng)。不同電(diàn)路中(zhōng),芯片電(diàn)容出現開路故障後,其呈現的具(jù)體(tǐ)故障現象都不同。如,起濾波作(zuò)用(yòng)的芯片電(diàn)容在開路後,會出現交流聲;而起耦合作(zuò)用(yòng)的芯片電(diàn)容在開路後,反而無聲。


2、擊穿

芯片電(diàn)容擊穿後,芯片電(diàn)容的隔直作(zuò)用(yòng)就會消失。電(diàn)路中(zhōng)的直流電(diàn)路出現故障,就會影響交流電(diàn)路的工(gōng)作(zuò)狀态。


3、漏電(diàn)

芯片電(diàn)容漏電(diàn)時,會導緻電(diàn)容兩極闆之間絕緣性能(néng)下降。兩極闆之間會存在漏電(diàn)阻,導緻有(yǒu)直流電(diàn)流通過電(diàn)容,引緻芯片電(diàn)容的隔直性能(néng)變差,其容量下降。當耦合芯片漏電(diàn)時,會在電(diàn)路中(zhōng)造成較大的噪音。這是芯片電(diàn)容故障中(zhōng),發生率比較高的故障,而且故障檢測比較困難。


4、通電(diàn)後擊穿

芯片電(diàn)容加上工(gōng)作(zuò)電(diàn)壓後擊穿,斷電(diàn)後,其表現為(wèi)不擊穿;使用(yòng)萬用(yòng)表檢測時,亦無表現出擊穿的特征。在通電(diàn)情況下,測量芯片電(diàn)容兩端的直流電(diàn)壓,數值為(wèi)零或者過低,電(diàn)容性能(néng)受影響。


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